广电计量亮相全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会

12月17-19日，中国半导体行业协会半导体分立器件分会主办的“第七届全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会暨2021半导体功率器件技术创新与产业融合发展论坛”在重庆隆重召开。活动邀请了半导体行业企业、知名高校、科研机构等专家学者齐聚一堂，共话半导体功率器件技术创新前沿话题。

广州无线电集团成员企业广电计量（002967）（SZ 002967）作为唯一一家第三方计量检测机构受邀参展，现场展示产品全寿命周期检测与失效分析技术服务方案，广电计量半导体技术副总监李汝冠博士在会上带来《SiC 功率器件的可靠性测试需求》主题报告。

半导体产业是支撑经济社会发展的战略性、基础性和先导性产业。当前，世界正经历百年未有之大变局，以新一代信息技术为代表的新一轮科技革命和产业变革正蓬勃兴起，半导体作为信息基础的基石，在国民经济和社会发展中的地位进一步凸显，而半导体功率器件作为重要的基础环节，其发展水平直接决定了产业的竞争力。

围绕半导体功率器件的技术创新话题，广电计量半导体技术副总监李汝冠发表题为《SiC 功率器件的可靠性测试需求》的主题演讲。李汝冠介绍，碳化硅（SiC）具有宽禁带、高击穿电场、高热导率等优势，在“新基建”七大领域及“双碳”领域起到至关重要的作用，应用前景光明。然而，其可靠性缺乏长期、大规模应用的历史数据支撑，需要经过大量测试进行验证。用于验证Si器件长期稳定性的许多方法可以直接应用到SiC上，但是目前SiC的失效机理尚未完全掌握，需要尝试增加各种方式来激发SiC的失效。对此，李汝冠重点解析了SiC需要额外增加的可靠性试验，引起现场参会人员的高度关注。

据介绍，广电计量已具备完善的半导体芯片与元器件解决方案，是国内极少数已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AEC-Q200完整验证报告的第三方检测机构，可为电动汽车、5G通信、轨道交通等领域的IGBT和以氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）为代表的第三代半导体器件提供可靠性验证服务，并对产品的设计和工艺改进提供分析和建议。

作为半导体检测技术服务领域的重要力量，广电计量已在上海、广州建立了半导体检测实验室，累计投入300多台套高端检测分析设备，由10余名博士、资深专家组成了高水平技术队伍，持续为数十家半导体行业知名企业提供了各类测试、验证与分析服务，助力半导体产业链质量提升。